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當開關設備接點間的放電等由感性負載的通斷以及電子馬達所產生的電弧放電，從而導致的偶發性的上升時間極快的高頻噪聲的發生。

這些噪聲通過電源線直接傳導到電子設備的內部，或是通過附近／并行的信號線以誘導的方式進行侵入，耦合到電子設備的回路或是基板上，產生反射、共振、增強等現象，從而使得電子機器內部的IC等出現誤動作。

INS系列就是模擬產生這類噪聲的，用來評價電子設備的抗擾度性能的試驗器。

INS系列滿足日本的NECA（日本電氣控制工業會）以及JEMA（日本電機工業會）等所發行的幾個不同的標準。